便携式（专业版）
  • 型号 FT-N008B
  • 工作温度 0～+70℃
  • 容量 1-8颗芯片
  • 产品概述 同时支持8颗粒同时测试，方便携带，功能全面
  • 支持测试命令类型 基础测试、实验测试、高阶测试（数据保持、抗干扰、自定义）等
实验版
  • 型号 实验版（FT-N008W/N016W）
  • 工作温度 -40℃～+85℃
  • 容量 1-8颗/1-16颗
  • 产品概述 支持宽温测试 FT-N008W可同时测试1种，共8颗芯片；FT-N016W可同时测试2种，共16颗芯片
  • 支持测试命令类型 基础测试、实验测试、高阶测试（数据保持、抗干扰、自定义）等
科研版
  • 型号 FT-N200
  • 工作温度 -40℃～+85℃
  • 容量 1-200颗
  • 产品概述 可同时测试1~200颗芯片，宽温测试、可同时测25种不同颗粒
  • 支持测试命令类型 基础测试
宽温版（FT-N240B）
  • 型号 宽温版（FT-N240B）
  • 工作温度 -40℃～+85℃
  • 容量 1-240颗
  • 产品概述 支持宽温测试，可同时测试25种，共240颗芯片，适用于研究所、科研单位、高级工程师 应用研究
  • 支持测试命令类型 基础测试、实验测试、高阶测试（数据保持、抗干扰、自定义）等
卓越版
  • 型号 FT-N512
  • 工作温度 -40℃～+85℃
  • 容量 1-512颗芯片
  • 产品概述 最高支持512颗颗粒同时测试、宽温测试
  • 支持测试命令类型 基础测试、实验测试、高阶测试（数据保持、抗干扰、自定义）等
芯片测试自动分选机
  • 型号 芯片测试自动分选机
  • 工作温度 0～+70℃
  • 容量 1~480颗
  • 产品概述 Flash芯片测试自动分拣设备利用可循环测试托板上下料方式，通过自动扫码、三轴直线电机模组，搭载4位真空取料机械手臂，实现Flash芯片批量自动上料或自动下料分选等级。 芯片测试数据的追溯，通过Flash芯片测试自动分拣设备与测试板老化柜进行网线连接，老化柜测试机和测试板的识别码扫描绑定实现。
  • 支持测试命令类型
芯片高温筛选机
  • 型号 芯片高温筛选机
  • 工作温度 室温～+200℃
  • 容量 1~480颗
  • 产品概述 最大支持 480颗，可同时60种不同颗粒在高温下的筛选测试，搭配芯片测试自动分选机可实现自动上下料，大大提升测试效率
  • 支持测试命令类型